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SiC HEMT Device
1200V 115A 16mΩ 446W

Maximum Ratings (TC = 25°C unless otherwise specified)

Symbol

Parameter

Limited Value

Units

IDM

Continuous drain current @TC=25°C

115

A

Continuous drain current @TC=100°C

76

A

IDM

Pulsed drain current @TC=25°C (pulse width: 10us)

250

A

VDSS

Drain to source voltage (TJ = -55°C to 150°C)

1200

V

VGSS

Gate to source voltage

-4/+18

V

PD

Maximum power Dissipation @TC = 25°C

446

W

TC

Operating Temperature

Case

-55 to +175

TJ

Junction

-55 to +175

TS

Storage Temperature

-55 to +175

TSOLD

Soldering Peak Temperature

260

Md

Mounting Torque 1 @M3 or 6-32 screw

1

Nm

8.8

lbf-in

Note (1): When using MOSFET Body Diode VGSmax = -4V/+19V
Note (2): MOSFET can also safely operate at 0/+15 V


Thermal  Resistance

Symbol

Parameter

Typical

Units

RθJC

Junction-to-Case

0.27

°C/W

RθJA

Junction-to-Ambient

40

°C/W

 

Electrical Parameters (TJ = 25°C unless otherwise specified)

Symbol

Parameter

Test Conditions

Min

Typ

Max

Units

Forward Device Characteristics

BVDSS

Drain-Source Breakdown Voltage

VGS = 0 V,IDSS = 100μA

1200

-

-

V

VGS(th)

Gate Threshold Voltage

VGS = VDS, ID = 23mA

1.8

2.6

3.6

V

VDS=VGS, ID=23mA, TJ=175°C

-

2.0

-

V

RDS(ona)

Drain-Source On-State Resistance

VGS=18V, ID=75A, TJ=25°C

11

16

21

VGS=18V, ID=75A, TJ=175°C

-

28.8

50

IDSS

Zero Gate Voltage Drain Current

VDS=1200V, VGS=0V, TJ=25°C

-

1

250

μA

IGSS

Gate-Source Leakage Current

VGS=22V

-

10

-

nA

gfs

Transconductance

VDS= 20 V, IDS= 75 A

-

53

-

S

VDS= 20 V, IDS= 75 A, T==175°C

-

47

-

CISS

Input Capacitance

VGS=0V, VDS=1000V, f=100KHz, 

VAC=25mV

-

4300

-

pF

COSS

Input Capacitance

-

236

-

pF

CRSS

Reverse Transfer Capacitance

-

35

-

pF

EOSS

COSS Stored Energy

-

135

-

μJ

EON

Turn-On Switching Energy (SiC Diode FWD)

VDS= 800V, VG= -4 V/+15 V, ID = 75 A,

RG(ext) = 5Ω, L= 65.7 μH, TJ= 175ºC


4,64


mJ

EOFF

Turn Off Switching Energy (SiC Diode FWD)

-

2.93

-

EON

Turn-On Switching Energy (Body Diode FWD)

VDS = 800V, VGS = -4V/+15V, ID =75 A,

RG(ext) = 5Ω, L= 65.7 μH, TJ= 175ºC


7.79


mJ

EOFF

Turn Off Switching Energy (Body Diode FWD)


2.95


QG

Total Gate Charge

VDS=800V, VGS=-4V to 8V, ID=20A

-

206

-

nC

QGS

Gate to Source Charge

-

60

-

QGD

Gate to Drain Charge

-

44

-

tD(on)

Turn-On Delay Time

VDS=800V, VGS=-4V to 15 V, 

RG(ext) = 5 Ω, I= 75 A, L= 65.7 μH

Timing relative to VDS, Inductive load

-

174

-

nS

tR

Rise Time

-

28

-

tD(off)

Turn-Off Delay Time

-

84

-

tF

Fall Time

-

27

-

a. Dynamic on-resistance; see Fig. 18 and 19 for test circuit and conditions


Reverse Diode Characteristics (TJ = 25°C unless otherwise specified)

Symbol

Parameter

Test Conditions

Min

Typ

Max

Units

Forward Device Characteristics

VSD

Diode Forward Voltage

VGS=-4V, IS=37.5A, TJ=25°C

-

3.9

-

V

VGS=-4V, IS=37.5A, TJ=175°C

-

3.6

-

IS

Continuous Diode Forward Current

VGS = -4 V, TC = 25˚C


112


A

IS, pulse

Diode pulse Current

VGS = -4 V, pulse width tP limited by Tjmax


250


A

tRR

Reverse Recover time

IS=75A, VGS=-4V, di/dt=1000A/μs,

VDD=400V, TJ=175°C

-

96

-

ns

QRR

Reverse Recovery Charge


604


nC

Irrm

Peak Reverse Recovery Current


15



tRR

Reverse Recover time

IS=75A, VGS=-4V, di/dt=1000A/μs,

VDD=400V, TJ=175°C


54



QRR

Reverse Recovery Charge


630



Irrm

Peak Reverse Recovery Current


19



 

QQ

电话

027-87807177
工作日 9:00-17:00

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