碳化硅芯片

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碳化硅芯片
SiC MOSFET (1200V 80mΩ 38A)

Maximum Ratings(TJ=25°C)

Symbol

Parameter

Value

Unit

VDSmax

Drain – Source Voltage

1200

V

VGSmax

Gate – Source Voltage (Absolute maximum values)

-8/+22

V

VGSop

Gate – Source Voltage (Recommended operational values)

-4/+18

V

ID

Continuous Drain Current, TC =25℃

38

A

Continuous Drain Current, TC =100℃

27

A

ID(pulse)

Pulsed Drain Current

80

A

TJ, Tstg

Operating junction and Storage temperature

-55~175


Electrical Characteristics in C/P test  (TJ=25℃)

Symbol

Parameter

Conditions

Min

Typ

Max

Unit

BVDSS

Drain to Source Breakdown

VGS=0V, ID=100μA

1200

-

-

V

VGS(th)

Gate Threshold Voltage

VDS=VGS, ID=5mA

2.3

2.8

3.6

V

VDS=VGS, ID=5mA, TJ=175℃

-

2.1


IDSS

Zero Gate Voltage Drain Current

VDS=1200V, VGS=0V

-

1

10

μA

IGSSF

Gate-Body Leakage, Forward

VGS=20V, VDS=0V

-

1

100

nA

RDS(ON)

Drain Source Resistance

VGS=18V, ID=20A

-

70

85

mΩ

VGS=18V, ID=20A, TJ=175℃

-

120

-

VSD

Diode forward voltage

VGS = -4V, ISD= 10A

-

4.3

-

V

VGS = -4V, ISD= 10A, TJ=175℃

-

3.8

-

QQ

电话

027-87807177
工作日 9:00-17:00

公众号

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